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平面平晶-平行平晶-钠光灯箱    
 
平面平晶
平面平晶:是以光波干涉原理为基础,利用平晶的测量面与试件的被测量面之间所出现的干涉条纹来测量被测量面的平面度。平面平晶:用于检定量块的研合性和平面度以仪器和量具的测量面、工作面的平面度,例如,平面光学零件、高级平台、平板、导轨、密封件等。亦可用于检定高精度的平面零件
 
   详细介绍:
平面平晶
 
     平面平晶主要和NG-C2高精度钠光灯箱配套使用用于以干涉法检验块规、量规、零件密封面、测量仪器以及测量工具量面的研合性和平面度,适用于光学加工厂、厂矿企业计量室、精密加工车间、阀门密封面现场检测使用,也适用于高等院校、科学研究等单位做平面度等检测。 
 
简介
      具有两个(或一个)光学测量平面的正圆柱形或长方形的量规。光学测量平面是表面粗糙度数值和平面度误差都极小的玻璃平面,它能够产生光波干涉条纹(见激光测长技术)。平晶有平面平晶和平行平晶两种。平面平晶用于测量高光洁表面的平面度误差,为用平面平晶检验量块测量面的平面度误差。平行平晶的两个光学测量平面是相互平行的,用于测量两高光洁表面的平行度误差,例如千分尺两测量面的平行度误差。平晶用光学玻璃或石英玻璃制造。圆柱形平面平晶的直径通常为 45~150毫米。其光学测量平面的平面度误差为:1级精度的为0.03~0.05微米;2级精度的为0.1微米。常见的长方形平面平晶的有效长度一般为200毫米。
 
平面平晶:是以光波干涉原理为基础,利用平晶的测量面与试件的被测量面之间所出现的干涉条纹来测量被测量面的平面度。
平面平晶:用于检定量块的研合性和平面度以仪器和量具的测量面、工作面的平面度,例如,平面光学零件、高级平台、平板、导轨、密封件等。亦可用于检定高精度的平面零件。
平面平晶:特别适用于计量单位、实验室作为标准平面和样板。
平面平晶的技术参数 
产品名称
平面直径d(mm)
工作面平面性(μm)
平面平晶
30
0.03
平面平晶
45
平面平晶
60
平面平晶
80
平面平晶
100
0.05
平面平晶
150
平面平晶
200
平面平晶
250
平面平晶
300
0.08

 

平面平晶主要和NG-C2高精度钠光灯箱配套使用用于以干涉法检验块规、量规、零件密封面、测量仪器以及测量工具量面的研合性和平面度,适用于光学加工厂、厂矿企业计量室、精密加工车间、阀门密封面现场检测使用,也适用于高等院校、科学研究等单位做平面度等检测。

 

 

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